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NanoTechnology

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Seiko Instruments Inc. NanoTechnology has been manufacturing high quality XRF Analytical systems since the early 1970s for both elemental analysis applications as well as for coating thickness applications. Seiko Instruments GmbH supports European customers in purchase, application and service of SIINTs XRF systems.

Seiko Instruments Inc. NanoTechnology fertigt hochwertige Röntgenfluoreszenzspektrometer seit Anfang der 70er Jahre sowohl für die Elementanalyse als auch für die Schichtdickenmessung. Seiko Instruments GmbH betreut die europäischen Kunden bei Beschaffung, Anwendung und Service von SIINT´s RFA Systemen.

SFT 9500

High performance – micro – coating thickness gauge
Hochleistungs –Mikro - Röntgenfluoreszenz – Schichtdickenanalysator
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SFT 110

Universal - Röntgenfluoreszenz – Schichtdickenanalysator
Universal x-ray fluorescence coating thickness analyzer
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